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大規(guī)模集成電路失效分析全國6大專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室

簡要描述:

廣電計(jì)量大規(guī)模集成電路失效分析全國6大專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室聚焦集成電路失效分析技術(shù),擁有業(yè)界專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析設(shè)備,可為客戶提供完整的失效分析檢測服務(wù),幫助制造商快速準(zhǔn)確地定位失效,找到失效根源。

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更新日期:2024-09-04

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大規(guī)模集成電路失效分析全國6大專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室
品牌廣電計(jì)量加工定制
服務(wù)區(qū)域全國服務(wù)周期常規(guī)3-5天
服務(wù)類型元器件篩選及失效分析服務(wù)資質(zhì)CMA/CNAS認(rèn)可
證書報(bào)告中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告增值服務(wù)可加急檢測
是否可定制是否有發(fā)票

大規(guī)模集成電路失效分析全國6大專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室服務(wù)范圍

規(guī)模集成電路芯片


檢測項(xiàng)目

試驗(yàn)類型

試驗(yàn)項(xiàng)?

無損分析

X-Ray、SAT、OM 外觀檢查

電特性/電性定位分析

IV曲線量測、Photon Emission、OBIRCH、ATE測試與三溫(常溫/低溫/高溫)驗(yàn)證

破壞性分析

塑料開封、去層、板級切片、芯片級切片、推拉?測試

微觀顯微分析

DB FIB切片截?分析、FESEM檢查、 EDS微區(qū)元素分析


相關(guān)資質(zhì)

CNAS


大規(guī)模集成電路失效分析全國6大專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室服務(wù)背景

四化"要求更強(qiáng)的芯功能,同時(shí),規(guī)級集成電路的集成度益提?,也使規(guī)級半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)和制造藝也益復(fù)雜。這對可靠性提出了更的要求,也帶來了更的難度,集成電路更容易失效,但失效定位與根源分析卻成為一大難題。

我們的優(yōu)勢

電計(jì)量聚焦集成電路失效分析技術(shù),擁有業(yè)界專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析設(shè)備,可為客戶提供完整的失效分析檢測服務(wù),幫助制造商快速準(zhǔn)確地定位失效,找到失效根源。同時(shí),我們可針對客?的研發(fā)需求,提供不同應(yīng)?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實(shí)驗(yàn)規(guī)劃、以及分析測試服務(wù),如配合客戶開展NPI階段驗(yàn)證,在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客完成批次性失效分析。


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